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HP-C-VE 光學測頭(圖1)

HP-L-10.6系統基于非接觸線激光掃描技術,相對于傳統接觸式或者點激光式掃描系統,大大提高了數據采集速度。
獲有專利“飛點掃描”技術保證高精度的完整點云,對電腦配置無過高要求。使用簡便,無需進行繁瑣的軟硬件設置。
3種線寬、線密度工作方式可選,可針對現場實際情況進行最佳選擇。
精度高;對于外部環境光要求低;對于高亮、高暗表面物體(如機械加工、拋光的表面),無需特殊處理或噴粉即可完成測量任務。